6487E Keithley Пикоамперметр
Высокоточный пикоамперметр с источником напряжения, предназначенный для измерения сверхмалых токов от 20 фемтоампер (фА) до 20 миллиампер (мА) и генерации напряжения до ±505 В. С разрешением 5,5 цифр, скоростью измерений до 1000 чтений в секунду и функцией демпфирования для емкостных устройств, этот прибор идеально подходит для научных исследований, тестирования электроники и производственных приложений. Удобный интерфейс, поддержка автоматизации и низкий уровень шума делают его незаменимым инструментом для инженеров и ученых, работающих с полупроводниками, наноматериалами и сенсорами.
Основные характеристики
- Разрешение и точность: 5,5 цифр с базовой точностью 0,3% + 400 фА на диапазоне 2 нА (1 год, 18°–28°C).
- Диапазоны измерения тока: 2 нА, 20 нА, 200 нА, 2 мкА, 20 мкА, 200 мкА, 2 мА, 20 мА (от 20 фА до 20 мА).
- Скорость измерений: До 1000 чтений в секунду при 0,01 PLC.
- Источник напряжения: От ±200 мкВ до ±505 В с разрешением до 10 мкВ.
- Интерфейс: GPIB, RS-232, поддержка эмуляции модели 6485.
- Функциональность: Автоматический выбор диапазона, цифровой фильтр (медиана и усреднение), буфер на 2500 точек, измерение сопротивления (10 Ом–10^15 Ом), функция демпфирования.
Преимущества
Keithley 6487E обеспечивает исключительную чувствительность с разрешением 10 фА и низким уровнем шума (20 фА RMS на диапазоне 2 нА), что позволяет точно измерять ультранизкие токи. Функция демпфирования минимизирует влияние емкостных нагрузок, обеспечивая стабильные измерения. Встроенный буфер на 2500 точек хранит данные и рассчитывает статистику, включая минимум, максимум и стандартное отклонение. Интерфейсы GPIB и RS-232, а также поддержка SCPI-команд, упрощают интеграцию в автоматизированные системы тестирования. Аналоговый выход (±2 В) позволяет масштабировать измерения для внешних устройств. По сравнению с моделью 6485, 6487E предлагает более высокую точность, более быстрые времена нарастания (от 110 мкс) и источник напряжения до 505 В, что делает его универсальным для тестирования изоляции и характеристик устройств.
Применение
- Исследования и разработки: Характеристика полупроводниковых устройств, сенсоров, наноматериалов и оптоэлектронных компонентов.
- Производство: Контроль качества, тестирование компонентов и проверка утечек тока.
- Образование: Лабораторные эксперименты для изучения электрических свойств и измерения низких токов.
